Shanxay optika va nozik mashinalar instituti (SIPM) katta diametrli difraksion linzalarni kalibrlashda muvaffaqiyatga erishdi.

Yaqinda Xitoy Fanlar akademiyasining (CAS) Shanxay optika va nozik mashinalar instituti (SIPM) qoshidagi yuqori quvvatli lazer fizikasi qo'shma laboratoriyasi katta kalibrli difraksion linzalar uchun bir ta'sirli interferometrik kalibrlash usulini taklif qildi, bu esa kuchli nurlanishni ta'minlaydi. katta kalibrli difraksion linzalarning muhandislik qo'llanilishini qo'llab-quvvatlash. Tegishli tadqiqot natijalari Optics Letters jurnalida katta diafragmali difraksion linzalarning fokuslash xususiyatlarini mutlaq o'lchash sarlavhasi ostida chop etildi.
Orqaga o'ralgan fokusli linzalar bilan solishtirganda, difraksion optik elementlar moslashuvchan dizaynga ega, diafragma katta, og'irligi engil, turli to'lqin uzunliklari diapazonlari uchun mos va murakkab optik funktsiyalarni amalga oshirishga qodir, foton eleklari va lenta varaqlari difraksion linzalarning odatiy namunasidir. . Difraksion elementlarning ko'p sonli mikro tuzilmalardan iboratligini hisobga olsak, ishlov berish jarayonida og'ishlar muqarrar va shuning uchun foydalanishdan oldin ishlashni kalibrlash kerak.
Ushbu tadqiqotda katta diafragmali difraksion linzaning tabiiy fon yorug'ligi mos yozuvlar sifatida ishlatiladi, u fokuslangan nur bilan birga kesishuvchi interferometrik tizimga kiradi. Ish detektor tomonidan qayd etilgan interferogrammaga asoslanadi, fokuslangan nurning fon yorug'ligiga nisbatan to'lqin fronti gradienti Furye tahlili bilan olinadi, so'ngra rejim usuli yordamida uzatilgan to'lqin fronti tiklanadi va nihoyat fokus uzunligi va fokus nuqtasi. difraksion linzalarning morfologiyasi raqamli hisoblab chiqilgan. 210- mm diafragmali difraksion linzalarning eksperimental natijalari nazariy taxminlarga mos keladi. Kosmik interferometrik teleskoplarda ultra katta diafragma to'lqin diapazoni bo'laklari va fotonli eleklardan foydalanish mumkin. O'z-o'zidan qo'llab-quvvatlanadigan tuzilmalarga ega nurni ajratuvchi foton elaklari EUV va yumshoq rentgen nurlarini fokuslangan tasvirlash uchun javob beradi. Plazmaning rentgen-interferometrik diagnostikasi uchun multifokal fotonli eleklardan foydalanish mumkin.
Ushbu ish Xitoyning Milliy tabiiy fanlar jamg'armasi va Xitoy Fanlar akademiyasining Strategik uchuvchi dasturi (A klassi) tomonidan qo'llab-quvvatlandi.

Shakl 1. Katta diametrli difraksion linzaning o'lchov optik yo'li