Yaqinda Xitoy Fanlar akademiyasi (CAS), Shanxay optika va nozik mashinalar instituti (SIPM) yuqori quvvatli lazer elementlari texnologiyasi va muhandisligi bo'limining tadqiqot guruhi lazerga qarshi shikastlanish samaradorligini baholashda yangi yutuqlarga erishdi. 532 nm yupqa plyonkali polarizatorlarning turli xil lazer shikastlanishi sinov protokollaridan foydalangan holda shikastlanish mexanizmi. Natijalar Optical Materials jurnalida "Turli sinov protokollari bilan baholangan 532?nm yupqa plyonkali polarizatorlarning nanosekundli lazer shikastlanishi" sarlavhasi ostida chop etildi. Optik materiallar.
Yupqa plyonkali polarizatorlar yuqori quvvatli lazer tizimlarida muhim rol o'ynaydi, chunki ular P-polyarizatsiyalangan yorug'likni uzatadi va S-polyarizatsiyalangan nurni aks ettiradi. 1064 nm yupqa plyonkali polarizatorlar odatda AQSh Milliy Ateşleme Facility (NIF), OMEGA EP lazer tizimi, Laser Megajoule va SG II-UP qurilmasi kabi yirik lazer tizimlarida optik kalitlar va optik izolyatorlar sifatida ishlatiladi. UP qurilmalari. Shu bilan birga, yuqori quvvatli qisqa to'lqinli lazerlarning rivojlanishi bilan qisqa to'lqinli nozik plyonkali optik elementlarning lazer shikastlanishiga cheklangan qarshilik muammosini hal qilish uchun polarizatsiyalangan nurlarni birlashtirish texnologiyasi joriy etildi, ammo ikkinchi va uchinchi lazerlarning shikastlanishini lazer bilan baholash. garmonik polarizatorlar ham hal qiluvchi ahamiyatga ega.
Hozirda lazer shikastlanishining asosiy sinov protokollari 1-yoqilgan-1, S-on-1, Raster skanerlash, R-on-1 va N -1-yoqilgan{ {7}} lazer shikastlanishi sinovi optik elementning dastlabki shikastlanish morfologiyasini oʻrganish uchun namunadagi har bir sinov nuqtasiga bitta lazer zarbasini qoʻllashni oʻz ichiga oladi. S-on-1 lazerli shikastlanish sinovi uzoq vaqt davomida optikaning umumiy ta'siri va ishlash muddatini baholash uchun bir xil sinov nuqtasiga bir nechta lazer impulslarini qo'llashni o'z ichiga oladi. rasterli skanerlash lazerli shikastlanish sinovi namunaning 1 sm2 maydonini bir xil energiya zichligida skanerlaydi va plyonka qatlamidagi diskret, past zichlikdagi nuqsonlarni aniqlash uchun ishlatilishi mumkin. Namunaning tekshirilishi mumkin bo'lgan maydoni cheklangan bo'lsa, zarar eshigini aniqlash uchun R-on-1 lazerli shikastlanish sinovi tanlanishi mumkin, bu esa bir xil sinov nuqtasini nurlantirish uchun lazer energiyasi zichligining ortib borayotgan bosqichlaridan foydalanadi. Lazer energiya zichligi bosqichlari sonini kamaytirish R-on-1 testini N-on-1 sinoviga osonlashtiradi. Turli xil lazer shikastlanishini tekshirish protokollaridan foydalanish nozik plyonkali optik komponentlarning shikastlanish manbalarini aniqlashga yordam beradi, plyonka buzilishining potentsial mexanizmlarini aniqlashga va nozik plyonkali optik komponentlarni tayyorlash jarayonlarini yaxshilashga yordam beradi.
Jamoa turli polarizatsiya holatlarida 532 nm yupqa plyonkali polarizatorlarning lazer shikastlanishiga chidamliligini 1-on-1, S-on-1 va Raster skanerlash lazerining shikastlanishi sinov protokollari yordamida baholadi. Elektron nurli bug'lanish yordamida tayyorlangan yupqa plyonkali polarizatorlarning shikastlanish chegarasi P-polarizatsiyalangan yorug'likda S-nuriga qaraganda sezilarli darajada past edi. 532 nm polarizatorlarning 1-yoqilgan-1 va S-on-1 zararlanish ehtimoli nol chegaralari P-polyarizatsiyalangan nurda bir-biriga juda yaqin. Zararning morfologik tavsifi shuni ko'rsatadiki, P polarizatsiyasi ostida namunalarning shikastlanishi asosan substrat va plyonka qatlami orasidagi strukturaviy nuqsonlar va eritilgan kremniy er osti yuzasi shikastlanishi natijasida yuzaga keladigan qobiqga o'xshash shikastlanishlar natijasida yuzaga keladigan tekis dipli kraterlardir. zarar turlari juda barqaror. S-polyarizatsiyalangan yorug'lik ostida, S-on-1 ning shikastlanish chegarasi 1-yoqilgan-1dan pastroq bo'lib, kümülatif effekt ta'siri paydo bo'ladi. Asosiy zarar morfologiyasi tugunlarning to'liq chiqarilmagan shikastlanishi kraterlari bo'lib, yutilish nuqsonlari natijasida kelib chiqadigan zarar ko'p pulsli lazer nurlanishida ham namoyon bo'ladi. Raster skanerlashda nol shikastlanish chegarasi ikkala qutblangan yorug'lik uchun ham eng past bo'lib, yupqa plyonkali polarizatorlar uchun nuqson zichligi va plyonka qatlami sifati ularning lazer shikastlanishiga chidamliligiga ta'sir qiluvchi asosiy cheklovchi omillar ekanligini ko'rsatadi.
Ushbu tadqiqot Xitoy Fanlar Akademiyasi Xalqaro hamkorlik byurosining Tashqi hamkorlik dasturi va Turkiyaning Ilmiy va texnologik tadqiqotlar kengashi tomonidan qo'llab-quvvatlandi.
Shakl 1. 532 nm yupqa plyonkali polarizatorlarning lazer shikastlanish chegaralari va tipik zarar morfologiyasini taqqoslash
